بوميض ضوء واحد إلى العين، يمكن للذكاء الصناعي (AI) تقديم طريقة أسرع وأكثر دقة لتشخيص اضطراب طيف التوحد (ASD) لدى الأطفال، وفقًا لأبحاث جديدة من جامعة جنوب أستراليا وجامعة فليندرز.
باستخدام تخطيط شبكية العين الكهربائي (ERG) - وهو اختبار تشخيصي يقيس النشاط الكهربائي للشبكية استجابةً لمحفز ضوئي - استخدم الباحثون الذكاء الصناعي لتحديد ميزات محددة لتصنيف ASD.
قام الباحثون بقياس استجابات شبكية العين لـ 217 طفلًا تتراوح أعمارهم بين 5-16 عامًا 71) منهم مصابون بـ ASD و146 طفلًا بدون تشخيص (ASD ، ووجدوا أن الشبكية تولد استجابة مختلفة في الأطفال المصابين بـ ASD مقارنة بأولئك الذين كانوا طبيعيين عصبيًا.
وجد الفريق أيضًا أن أقوى علامة بيولوجية تم الحصول عليها من وميض ساطع واحد للعين اليمنى، مع معالجة الذكاء الصناعي التي قللت بشكل كبير من وقت الاختبار. ,تم إجراء الاختبار بالتعاون مع جامعة كونيتيكت وكلية لندن الجامعية، ويمكن تقييم الاختبار بشكل أكبر لمعرفة ما إذا كان يمكن استخدام هذه النتائج لفحص ASD بين الأطفال من سن 5 إلى 16 عامًا بدقة عالية.
يعد ASD حالة تطورية عصبية تتميز بصعوبات في التفاعلات الاجتماعية المتبادلة والتواصل والسلوكيات المتكررة / المقيدة.
يقول الباحث في UniSA، الدكتور فرناندو مارموليجو-راموس، إن الاختبار يمكن أن يوفر للأطباء طريقة محسنة لتشخيص ASD، مما يسرع الحصول على الدعم الذي يحتاجه الآلاف من الأطفال المصابين.
ويضيف: "يمكن أن تساعد التدخلات المبكرة والدعم المناسب الأطفال المصابين بـ ASD على تحسين جودة حياتهم، لكن في الوقت الحالي، لا يوجد اختبار بسيط لـ ASD، مما يعني أن الأفراد غالبًا ما يحتاجون إلى تقييمات نفسية طويلة وتقارير للحصول على التشخيص".
ويلفت مارموليجو-راموس إلى أنّ "هذا الاختبار أسرع بكثير. باستخدام وحدة اختبار تخطيط شبكية العين الكهربائي RETeval، يمكننا جمع البيانات وإكمال فحص للتوحد، كل ذلك في غضون 10 دقائق فقط.هذه خطوة كبيرة لأنها تخفف الوقت والتوتر والمال عن الآباء وأطفالهم. والمهم أن الاختبار غير جراحي ويتحمله الأطفال جيدًا، مما يجعل العملية أسهل بكثير للجميع".